產品簡介

PDL-201 測量偏振相關損耗 (PDL)、插入損耗 (IL) 和光功率。

 

主要規格

 

產品說明

PDL-201 採用符合 TIA/EIA-455-198 的專利最大值和最小值搜索方法，在短短 30 毫秒內同時測量設備的偏振相關損耗 (PDL)、插入損耗 (IL) 和光功率。與使用偏振擾頻法的 PDL 測量儀不同，PDL-201 的 最大最小技術對於 PDL 的低高值都很有用。而且與使用穆勒矩陣技術的儀器不同，PDL-201 的波長範圍很寬，無需校準。

該儀器的測量速度與遠程控制介面相結合，使其能與自動或半自動測試站中的可調雷射配合使用。

 

解決方案

PDL-201 可用於具有光學輸入和輸出的設備或配件進行 PDL/IL 測量。應用包括被動元件和 DWDM 元件的鑑定。