產品簡介

PXA-1000 分佈式偏振串擾 (X-Talk) 分析儀可測量高雙折射材料中的分佈式偏振交叉耦合，如保偏 (PM) 光纖和雙折射波導。

主要規格

產品說明

PXA-1000基於增強型白光干涉儀，其設計消除了傳統白光干涉儀中常見的強零階干擾，並減少了多耦合干擾，這兩者干擾都會導致測量信號中出現 “幽靈”峰值。去除“幽靈”峰值後， PXA-1000 能明確識別實際串擾峰值的大小和位置，進而獲得更高的測量靈敏度、更高的動態範圍和更高的空間測量精度。

透過分析應力引起的偏振串擾來測量保偏 (PM) 光纖中的空間分辨應力，能定位 PM 光纖線圈內部的缺陷或局部應力區域，包括捲繞過程中的任何應力。

於 Y 分支波導中，可表徵尾纖的排列，以及波導內部特徵對偏振消光比 (PER) 的貢獻。

解決方案

PXA-1000 可準確測量保偏光纖和其他雙折射材料中的偏振串擾大小和位置。 應用包括對保偏光纖、保偏光纖線圈和光纖陀螺儀的 IOC 的特性。